Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов. Исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии. Антон Фуник

Чтение книги онлайн.

СКАЧАТЬ химических реакциях. Проведение in situ- измерений XAFS спектров также позвляет изучать влияние внешних воздействий (давление, температура, наличие атмосферы определенного газа и т.д.) на локальную и электронную структуры исследуемых материалов. Исследовать структурные и химические процессы.

      Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом может приводить к целому ряду процессов (рис. 4). Так в результате поглощения рентгеновского излучения веществом электроны внутренних оболочек атомов могут переходить как на дискретные уровни системы, так и в область непрерывного спектра. Переход электрона на свободные дискретные уровни приводит к резкому возрастанию поглощения рентгеновского излучения. В спектрах начинают наблюдаться дискретные линии, которые и получили название ближней тонкой структурой спектра рентгеновского поглощения. Энергетическое положение таких дискретных линий поглощения является характеристической величиной для каждого химического элемента, что позволяет однозначно определять химический элемент по положению порога возбуждения. Метод рентгеновской спектроскопии поглощения дает возможность исследования всех химических элементов, начиная с лития, а также веществ в любом агрегатном состоянии.

      Рис. 4. Основные процессы, протекающие в веществе при поглощении рентгеновского излучения

      На рис. 5 представлена принципиальная схема экспериментальной установки для получения рентгеновских спектров поглощения с использованием синхротронного излучения. Существует несколько методов регистрации рентгеновских спектров поглощения: на прохождение и по выходу флуоресценции, вторичных, фото- или Оже- электронов.

      Рис. 5. Схема установки для получения рентгеновских спектров поглощения с применением синхротронного излучения

      Первый метод состоит в измерении падающего на образец излучения и прошедшего сквозь него. Тогда линейный коэффициент рентгеновского поглощения определяют по формуле

      где I₀ и I_t – соответственно интенсивность падающего излучения и излучения, прошедшего через образец. В другом случае измеряют интенсивность физических процессов, происходящих в результате взаимодействия излучения с образцом. В методе регистрации выхода флуоресценции коэффициент поглощения будет определяться формулой

      Измерение спектра поглощения производится по точкам, в каждой точке необходимо использовать строго монохроматизированное рентгеновское излучение, однако получить такое излучение с большим набором различных длин волн в реальности невозможно. Поэтому при регистрации экспериментальных спектров используют полосу узкого диапазона длин волн, вырезанную из первичного пучка монохроматором. Причем ширина этой линии должна быть сравнима с естественной шириной СКАЧАТЬ