Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств. И. О. Атовмян

Скачать книгу в различных форматах или читать онлайн на сайте.

Название: Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Автор: И. О. Атовмян

Издательство: НОУ «МФПУ «Синергия»

Жанр: Математика

Серия: Прикладная информатика. Научные статьи

isbn:

isbn: 2014

Аннотация:

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.