Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов. Дмитрий Крутогин

Скачать книгу в различных форматах или читать онлайн на сайте.

Название: Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Автор: Дмитрий Крутогин

Издательство: МИСиС

Жанр: Техническая литература

Серия:

isbn:

isbn: 2013

Аннотация:

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».