Название: Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений
Автор: Андрей Поляков
Издательство: МИСиС
Жанр: Техническая литература
isbn:
isbn: 2002
В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта.