Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия. Владимир Бублик

Скачать книгу в различных форматах или читать онлайн на сайте.

Название: Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия

Автор: Владимир Бублик

Издательство: МИСиС

Жанр: Техническая литература

Серия:

isbn:

isbn: 2006

Аннотация:

В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.