Название: Исследование полупроводниковых диодов в MicroСap, Multisim и MathCAD
Автор: Равиль Загидуллин
Издательство: МГТУ им. Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)
isbn: 978-5-7038-4423-6
isbn: 0
Изложены особенности проведения лабораторных исследований свойств полупроводниковых диодов, моделирования стендов для исследования. Рассмотрено взаимодействие программ схемотехнического моделирования MicroСap и программ математической обработки экспериментальных данных. Приведены особенности проведения экспериментов для расчета моделей полупроводниковых диодов. Для студентов, обучающихся по направлению подготовки «Радиоэлектронные системы и комплексы». Может быть полезно при курсовом и дипломном проектировании.